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硬X射線臺式吸收精細結構譜儀（RapidXAFS）只能在各個同步輻射光源上測試。由于光源機時有限，無法滿足眾多科研工作者的測試需求。而近些年，XAFS數據已成為了頂級期刊的“標配”，致使越來越多課題組需要XAFS測試。

臺式XAFS不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究。

RapidXAFS HEX射線吸收譜儀是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

桌面XAFS測試對樣品無破壞，在大氣環境下測試，可進行原位測試；不受樣品狀態影響，可測量固體(晶體、粉末)，液體(溶液、熔融態)和氣體等。

桌面XAS測試是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

發射譜XES是一種重要的分析技術，主要用于研究材料的電子結構和化學性質。硬X射線具有較高的能量，能夠深入樣品內部，使XES成為探測材料深層信息的強有力工具。